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PSM-4K闭循环低温探针台特点包含哪些？主要特点是什么？
在探针臂和防辐射屏之间做热沉，在降温时使探针臂温度和防辐射屏温度相当，从而避免探针臂的温度影响样品温度。此外，接入探针台的电学引线也在防辐射屏附近做了热沉，避免增加样品座的热负载。
넶4 2023-11-22 -
PSM-4K闭循环低温探针台简介
PSM-4K闭循环低温探针台的工作温度为4K-325K，能够为半导体芯片的电学参数测试提供一个低温的测试环境，通过外接不同的电学测量仪器，可完成集成电路的电压、电流、电阻以及IV曲线等参数检测，用于极低温环境下的芯片、晶圆和器件的非破坏性电学测试。
넶3 2023-11-22 -
粉末样品座是什么？组成有哪些？
粉末样品座采用三明治结构，由带凹槽的T型样品座基座、透明玻片和可拆卸盖板组成，粉末状样品可夹在样品座基座和透明玻片之间，再由可拆卸盖板将玻片进行固定，此样品座可以对粉末样品进行一系列的光学测试，关于样品座的形状尺寸均可定制化，以配合用户的测试需求。
넶11 2023-11-06
